您的位置：高壓高濕不飽和HAST加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備
簡要描述：高壓高濕不飽和HAST加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備（Highly Accelerated Stress Test Chamber）是一種用于在高溫、高濕和高壓條件下對產(chǎn)品或材料進(jìn)行加速老化測試的設(shè)備。這種試驗(yàn)箱主要用于評估產(chǎn)品在環(huán)境條件下的可靠性和耐久性，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子元器件、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、光伏組件等行業(yè)。溫度范圍：HAST試驗(yàn)箱能夠提供不同的溫度范圍，如105℃～132
產(chǎn)品型號：DR-HAST-350J- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2025-11-25
- 訪 問 量：1322
高壓高濕不飽和HAST加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn):
1.內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。
2.產(chǎn)品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗?jié)裥栽囼?yàn)以及飽和高壓蒸汽（蒸煮）試驗(yàn)。
3.產(chǎn)品兼容高加速溫濕度應(yīng)力HAST老化試驗(yàn)和高壓蒸煮PCT抗?jié)裥栽囼?yàn)。
高壓高濕不飽和HAST加速老化試驗(yàn)箱設(shè)備滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
AEC Q101（車規(guī)級芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
高壓高濕不飽和HAST加速老化試驗(yàn)箱安全保護(hù)：
a.進(jìn)口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，保證壓力無泄露。
b.整機(jī)配備超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，一鍵泄壓，手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置，在上保證用戶的使用和安全。
c.反壓門鎖裝置，在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí)，試驗(yàn)箱門無法打開。
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